1、觀察孔障礙:對多數(shù)儀器而言,信號的任何減弱都會造成溫度指示值的下降;觀察窗上的污物影響多數(shù)高溫計的精度。
2、校驗:行業(yè)標準是每年校驗一次,但是,儀器的漂移和失效有自己的日程,理想的做法是對工廠使用的所有光學元件都進行校驗(觀察玻璃或觀察鏡)。
3、儀器校準:通過透鏡瞄準要求兩個光學路程準確重疊,這會影響所有等級的常規(guī)高溫計。
4、未知/變化中的發(fā)射率—多種合金、擾動效應、溫度和波長的依賴性以及加工過程中成分的變化等,所有這些都對發(fā)射率的不可預見性起著作用。
5、觀察窗玻璃材料:不是所有玻璃都具有同樣的透射性能;有的是“灰”色的,而另外一些玻璃的透射性則隨波長而發(fā)生變化。這會讓常規(guī)高溫計失靈。
6、蒸汽發(fā)射:對高壓熔化(接近和在大氣壓以上)而言,熔池或坩堝中溢出的氣體會增加或減少熱輻射,因此造成誤差。
這些困難是光學溫度測量所特有的困難。同時,還有與精 密鑄造工藝相關的困難,這使得任何類型儀器儀表的溫度測量變得復雜化了,包括:
1、熔化技術:不良熔化技術會導致高蒸汽壓力元素過渡沸騰、熔池表面產生擾動或形成反應產品,所有這些都會造成常規(guī)高溫計的誤差。
2、鑄錠、坩堝、線圈間的匹配:對于熔化周期特性而言,熔化系統(tǒng)的這三個組分都是重要的。匹配不當會造成熔化緩慢和不均勻、局部過熱或濺射。上述這些也都是常規(guī)高溫計誤差的來源。
3、工藝變量的可接受范圍:除非整個熔化爐都處于穩(wěn)定狀態(tài)(通常情況下,這是不現(xiàn)實的),否則,在精 密鑄造過程中,溫度會有一個范圍,很重要的是,這個溫度范圍必須能保證產品的。
4、信號處理能力:測量儀器與控制設備之間的每個模擬打到數(shù)字或數(shù)字到模擬轉換都是潛在誤差源,寬廣的模擬范圍導致精 密度的缺乏。
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